ISO 14706:2000
Surface chemical analysis — Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
Reference number
ISO 14706:2000
Edición 1
2000-12
© ISO 2024
Retirada
Retirada (Edición 1, 2000)

Informaciones generales

  • Estado
     : Retirada
    Fecha de publicación
     : 2000-12
    Etapa
    : Retirada de la Norma Internacional [95.99]
  • Edición
     : 1
    Número de páginas
     : 23
  • Comité Técnico :
    ISO/TC 201
    ICS :
    71.040.40 
  • RSS actualizaciones

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