Resumen
ISO 11877:2008 specifies a photometric method to be used for the determination of the mass fraction of silicon in the range of 20 µg/g to 300 µg/g in cobalt metal powders.
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Informaciones generales
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Estado: PublicadoFecha de publicación: 2008-06Etapa: Norma Internacional confirmada [90.93]
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Edición: 1Número de páginas: 4
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Comité Técnico :ISO/TC 119/SC 4ICS :77.160
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