Résumé
This document uses ellipsometric measurements and their analysis to specify the method for the determination of the layer thickness d of a transparent layer and the optical (refractive index n) or dielectric (real part ε1) constants/functions based on the transparent single layer model within a spectral region, for which k = 0 applies.
Informations générales
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État actuel: ProjetStade: Nouveau projet enregistré au programme de travail du TC/SC [20.00]
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Edition: 1
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Comité technique :ISO/TC 107
- RSS mises à jour
Cycle de vie
Cette norme contribue aux Objectifs de développement durable suivants
1
Pas de pauvreté
3
Bonne santé et bien-être
6
Eau propre et assainissement
7
Énergie propre et d'un coût abordable
8
Travail décent et croissance économique
9
Industrie, innovation et infrastructure
11
Villes et communautés durables
12
Consommation et production responsables
13
Mesures relatives à la lutte contre les changements climatiques
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