недоступно на русском языке

Тезис

 Предпросмотр

Describes profiles and the general structure of contact (stylus) instruments for measuring surface roughness and waviness. Specifies the properties of the instrument which influence profile evaluation. Replaces the first edition of ISO 3274:1975 and ISO 1880:1979.


Общая информация 

  • Текущий статус
     :  Published
    Дата публикации
     : 1996-12
  • Версия
     : 2
  • Технический комитет
     : ISO/TC 213 Dimensional and geometrical product specifications and verification
  • ICS
     :
    17.040.30 Measuring instruments

Приобрести данный стандарт

Формат Язык
PDF
Бумажный
  • CHF92

Жизненный цикл


Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах.

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. ТК
  5. ISO/TC 213
  6. ISO 3274:1996