Reference number
ISO/TR 17055:2002
© ISO 2024
Technical Report
ISO/TR 17055:2002
Steel — Determination of silicon content — Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method
Edition 1
2002-04
Technical Report
Preview
недоступно на русском языке
Опубликовано (Версия 1, 2002)

ISO/TR 17055:2002

Язык
Формат
CHF 63
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

ISO/TR 17055 specifies a method for the determination of the content of silicon in steel by means of inductively coupled plasma emission spectrometry. The method is applicable to silicon contents of mass fraction 0,02 % to 5 %.

The method uses a calibration based on a very close matrix matching of the calibration solutions to the sample and close bracketing of the contents around the approximate concentration of silicon in the sample to be analysed. The concentrations of all elements in the sample has, therefore, to be approximately known. If the concentrations are not known the sample has to be analysed by some semi quantitative method.

Общая информация

  • Текущий статус
     : Опубликовано
    Дата публикации
     : 2002-04
    Этап
    : Опубликование международного стандарта [60.60]
  • Версия
     : 1
  • Технический комитет :
    ISO/TC 17/SC 1
    ICS :
    77.080.20 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития

9
Индустриализация, инновации и инфраструктура

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. ТК
  5. ISO/TC 17/SC 1
  6. ISO/TR 17055:2002