Тезис

ISO 14880-2:2006 specifies methods for testing wavefront aberrations for microlenses within microlens arrays. It is applicable to microlens arrays with very small lenses formed inside or on one or more surfaces of a common substrate.


Общая информация 

  • Текущий статус
     :  Under development
  • Версия
     : 2
  • Технический комитет
     : ISO/TC 172/SC 9 Laser and electro-optical systems
  • ICS
     :
    31.260 Optoelectronics. Laser equipment

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития:

9
Индустриализация, инновации и инфраструктура

Жизненный цикл


Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах.

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. ТК
  5. ISO/TC 172/SC 9
  6. ISO/DIS 14880-2