ISO 24173:2009
Microbeam analysis — Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction
Reference number
ISO 24173:2009
Edición 1
2009-09
© ISO 2024
Retirada
Retirada (Edición 1, 2009)

Resumen

ISO 24173:2009 gives advice on how to generate reliable and reproducible crystallographic orientation measurements using electron backscatter diffraction (EBSD). It addresses the requirements for specimen preparation, instrument configuration, instrument calibration and data acquisition.

Informaciones generales

  • Estado
     : Retirada
    Fecha de publicación
     : 2009-09
    Etapa
    : Retirada de la Norma Internacional [95.99]
  • Edición
     : 1
    Número de páginas
     : 43
  • Comité Técnico :
    ISO/TC 202
    ICS :
    71.040.50 
  • RSS actualizaciones

Ciclo de vida

Objetivos de Desarrollo Sostenible

Esta norma contribuye al siguiente Objetivo de Desarrollo Sostenible

9
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