Numéro de référence
ISO 1463:1982
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ISO 1463:1982
Revêtements métalliques et couches d'oxyde — Mesurage de l'épaisseur — Méthode par coupe micrographique
Edition 2
1982-07
Annulée
Annulée (Edition 2, 1982)

Résumé

La présente Norme internationale spécifie une méthode de mesurage, par coupe micrographique en utilisant un microscope optique, de l'épaisseur locale des revêtements métalliques, couches d'oxyde et émaux vitrifiés. Dans de bonnes conditions, en utilisant un microscope optique, la méthode permet d'obtenir une précision absolue de 0,8 µm sur la mesure; cette précision déterminera l'aptitude de la méthode à mesurer l'épaisseur des revêtements minces.

Informations générales

  • État actuel
     : Annulée
    Date de publication
     : 1982-07
    Stade
    : Annulation de la Norme internationale [95.99]
  • Edition
     : 2
    Nombre de pages
     : 5
  • Comité technique :
    ISO/TC 107
  • RSS mises à jour

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