Résumé
ISO 15470:2017 describes the way in which specific aspects of the performance of an X-ray photoelectron spectrometer are described.
Informations générales
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État actuel: PubliéeDate de publication: 2017-03Stade: Norme internationale confirmée [90.93]
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Edition: 2
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Comité technique :ISO/TC 201/SC 7ICS :71.040.40
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Cycle de vie
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Précédemment
AnnuléeISO 15470:2004
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Actuellement