Norme internationale
ISO 23729:2022
Analyse chimique des surfaces — Microscopie à force atomique — Lignes directrices relatives au mode opératoire de restauration des images de microscopie à force atomique dilatées par la taille finie de la sonde
Numéro de référence
ISO 23729:2022
ISO 23729:2022
Edition 1
2022-07
2022-07
© ISO 2024
Norme internationale
Résumé
This document describes a procedure for the quantitative characterization of the probe tip of an atomic force microscope (AFM) probe and a restoration of AFM topography images dilated by finite probe size. The three-dimensional shape of the probe apex is extracted by image reconstruction using suitable reference materials. This document is applicable to the reconstruction of AFM topography images of solid material surfaces.
Informations générales
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État actuel: PubliéeDate de publication: 2022-07Stade: Norme internationale publiée [60.60]
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Edition: 1
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Comité technique :ISO/TC 201/SC 9ICS :71.040.40
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