недоступно на русском языке

Тезис

 Preview

This document specifies the test method for measuring the crystalline quality of single-crystal thin film (wafer) using the XRD method with parallel X-ray beam. This document is applicable to all of the single-crystal thin film (wafer) as bulk or epitaxial layer structure.


Общая информация 

  • Текущий статус
     : Опубликовано
    Дата публикации
     : 2020-08
  • Версия
     : 1
  • Технический комитет
     : ISO/TC 206 Fine ceramics
  • ICS
     :
    81.060.30 Advanced ceramics

Приобрести данный стандарт

Формат Язык
PDF + ePub
Бумажный
  • CHF145

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития

9
Индустриализация, инновации и инфраструктура

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. МКС
  5. 81
  6. 81.060
  7. 81.060.30
  8. ISO 22278:2020