ISO/DIS 23131-3

Проект данного международного стандарта находится на этапе рассмотрения членами ИСО.

Тезис

This document uses ellipsometric measurements and their analysis to specify the method for the determination of the layer thickness d of a transparent layer and the optical (refractive index n) or dielectric (real part ε1) constants/functions based on the transparent single layer model within a spectral region, for which k = 0 applies.

Общая информация

Текущий статус
: В стадии разработки

Этап
: Регистрация проекта международного стандарта (DIS) [40.00]
Версия
: 1
Технический комитет :
ISO/TC 107

ICS :
17.020
RSS обновления