Projet
Norme internationaleISO/DIS 23131-3
Ellipsométrie — Partie 3: Titre manque
Numéro de référence
ISO/DIS 23131-3
ISO/DIS 23131-3
Edition 1
© ISO 2024
Projet Norme internationale
ISO/DIS 23131-3
83903
Projet de Norme internationale au stade enquête auprès des membres de l’ISO.
Résumé
This document uses ellipsometric measurements and their analysis to specify the method for the determination of the layer thickness d of a transparent layer and the optical (refractive index n) or dielectric (real part ε1) constants/functions based on the transparent single layer model within a spectral region, for which k = 0 applies.
Informations générales
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État actuel: ProjetStade: DIS enregistré [40.00]
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Edition: 1
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Comité technique :ISO/TC 107ICS :17.020
- RSS mises à jour
Cycle de vie
Cette norme contribue aux Objectifs de développement durable suivants
1
Pas de pauvreté
3
Bonne santé et bien-être
6
Eau propre et assainissement
7
Énergie propre et d'un coût abordable
8
Travail décent et croissance économique
9
Industrie, innovation et infrastructure
11
Villes et communautés durables
12
Consommation et production responsables
13
Mesures relatives à la lutte contre les changements climatiques